光模块EOL测试的精确温度控制
通过快速温度循环、精确温度控制和高效散热,加速光模块EOL测试。

引言
光模块EOL测试需要快速、精确的温度控制,以便在 0°C、25°C 和 70°C 工作条件下验证产品性能,同时不会影响大批量生产的产能。
塔克热系统(Tark Thermal Solutions) 将全新的 PCX-DG PowerCycling 热电制冷器、客制化 冷板到液体系列热电制冷器组件以及 PR-59 温度控制器相结合,为客户提供完整的热管理解决方案。其中,PCX-DG 专为严苛测试应用而设计。
消除测试工位瓶颈
随着数据中心向 **1.6T 可插拔光模块和共封装光学(CPO)**发展,光模块已成为网络中对温度最敏感的组件之一。TOSA 和 ROSA 子组件包含 DFB、EML 或 VCSEL 激光器,其波长、消光比和调制响应都会随着结温升高而发生明显漂移。
因此,AI 云计算客户要求EOL测试中进行温度循环验证,在光模块发货并安装到数据中心之前,验证其在整个外壳温度范围内的信号性能。
在生产过程中,EOL测试是制造商发现临界性能产品的最后一道关口,同时也是产能压力最大的环节。完成一次温度循环测试可能需要长达一分钟,占用大量生产线产能。如果测试工位能够在数秒内达到稳定温度并保持精确温控,就可以测试更多产品、提高光学参数的过程能力指数(Cpk),并在产品进入超大规模数据中心客户之前筛除早期失效产品。

光模块EOL测试的热管理要求
在光模块生产工厂中,工艺工程师非常清楚,生产线往往会在热测试头环节出现速度瓶颈。每个 OSFP 模块在出货前都必须成功通过低温、常温和高温外壳温度测试。临界性能产品在每个温度设定点可能需要更长时间才能达到稳定状态,从而延长节拍时间。
节拍时间(Takt Time)= 可用生产时间 / 客户需求量
典型的 OSFP 光收发器 EOL 测试包括:
低温恒温测试
通常将被测器件(DUT)外壳温度控制在 0°C,用于验证低温启动时的激光波长锁定和误码率。常温功能测试(约 25°C)
测量基准光功率、消光比和 TDECQ,即评估由于发射信号并非完全理想而给接收端带来的额外负担。高温恒温测试(+70°C)
对工业级产品有时还需要更高温度,用于确认模块内部 TEC 具有足够的制冷余量,并能够保持所需的眼图裕量。设定点之间快速升降温
温度转换速度必须足够快,使整个测试工位能够满足节拍时间要求,通常要求达到 5~10°C/s 或更高,与共封装光学热循环测试设备采用的升降温速率相匹配。
一只 800G OSFP 光模块的热量约为 16 W,在连续运行过程中,每个 QSFP 光模块可能需要超过 50 W 的主动热泵能力。因此,EOL 热测试头必须能够从尺寸很小的光模块外壳中快速带走实际运行产生的热量,同时在严苛的温度设定点循环过程中保持稳定温度。
仅采用空气进行散热无法提供足够的热端散热能力,因此会导致升降温速率较慢,而且难以在多 DUT 测试夹具上保持均匀温度。对于高产能的大批量生产线,采用液冷支持的循环冷水机方案更为合适。
用于光模块 EOL 测试的热电架构
三种 塔克热系统组件可以组合成一套紧凑的光模块 EOL 测试热管理解决方案:
PCX-DG 系列热电制冷器 —— 用于反复热循环
DL 系列 Direct-to-Liquid 冷板到液体热电制冷器组件 —— 用于热端散热
PR-59 可编程温度控制器 —— 用于闭环温度控制

这些组件可满足 EOL 测试中的三个关键要求:快速温度转换、精确温度稳定性以及高可靠性的反复热循环。
1. PCX-DG 系列:专为严苛热循环设计
PowerCycling PCX-DG 系列专为频繁在高温和低温设定点之间切换、并要求快速升降温速率的严苛应用而设计。
反复加热和制冷会在热电制冷器内部产生机械应力。PCX-DG 系列在模块结构中采用增强型高导热软层,旨在承受大电流热电制冷器快速功率循环时传递至热电元件的高机械应力。
DG 结构在热端和冷端陶瓷基板两侧均增加高导热软性粘接层。这种双界面结构能够吸收循环过程中产生的更强机械膨胀和收缩,从而在热电制冷器快速切换加热和制冷状态时降低机械应力。

PCX14-128-F2-4040-TA-RT-W6-DG 可提供:
在 ΔT = 0 时最高 116 W 制冷能力
最大温差 ΔTmax = 68.6°C
性能规格基于 27°C 热端温度
这样的热性能可为 EOL 测试头提供足够的制冷余量,在从通电运行的光模块中持续散走热量的同时,将其外壳温度保持在零度以下。
2. DL 系列热电制冷器组件:管理热端散热
热电制冷性能取决于能否有效排出热端产生的热量。空气到液体或全液体循环系统可以将废热从测试工位中导出,使多个测试工位共用一台冷水机,同时帮助热控制系统保持稳定的参考温度。
DL-120-24-00 Direct-to-Liquid 冷板到液体热电制冷器组件提供:
135 W 制冷能力
24 V 工作电压
4.7 A 电流
140 × 60 × 39 mm 外形尺寸
0.7 kg 重量
该组件采用水/乙二醇热交换器,并在液体通道内使用耐腐蚀热交换器,以最大限度提高热传递效率。其紧凑的外形尺寸使其可以集成到 EOL 测试夹具中,而不会占用过多机架空间。

对于一个同时并行测试 4~8 个光模块的 EOL 测试工位,可根据峰值同时热负载为每个工位配置一套 DL-120,从而为 PCX-DG 热测试头提供稳定的热端参考温度,避免随着生产班次持续运行而产生温度漂移。
3. PR-59:闭环温度控制的核心
如果没有能够在升降温和恒温阶段准确保持温度设定点的控制器,上述系统都无法正常发挥作用。PR-59 可编程温度控制器可满足 EOL 测试工位的要求,是 TEC 组件实现可逆制冷和加热控制的核心设备。

±0.05°C 温度精度:足以将 TOSA 外壳温度保持在严格范围内,使波长漂移可以忽略不计
用户可选择 PID、ON/OFF 和 POWER 模式,使工艺工程师可以根据测试要求,在快速升降温和温度过冲之间进行优化
12~30 VDC 输入,最高 15 A,配合额外制冷时可达到 30 A,能够为 PCX-DG 满电流运行提供足够驱动能力
PWM 输出和 H 桥控制,支持可逆制冷/加热,因此同一个热测试头既可以执行低温恒温测试,也可以执行高温恒温测试,无需更换硬件
RS-232 接口和 Windows LT-Interface 软件,支持数据记录、远程温度设定点控制以及与测试系统集成,使运行数据能够保存到文件中供后续分析
两个可编程风扇输出和一个报警继电器,如果热端液体回路发生故障,或者 DUT 传感器超过安全温度限值,测试工位可以自动终止测试
塔克热系统三大组件组合满足光模块 EOL 测试需求
速度: PCX-DG 的高功率密度结合 DL-120 强大的热端散热能力,可实现足够快的测试工位升降温速率,使完整的低温—常温—高温测试能够在实际生产环节时间内完成。
稳定性: PR-59 提供 ±0.05°C 的温度控制,使每个温度设定点获得的光学测量结果真正反映 DUT 本身的性能,而不是测试夹具中的热噪声。
可靠性: PCX-DG PowerCycling 结构专门针对普通 TEC 在全天候生产线运行过程中容易产生故障的热循环应力条件而设计。
对于大批量光模块制造商而言,其收益可以直接体现在:
提高筛选覆盖率
提高超大规模数据中心客户重点关注参数的 Cpk
减少临界性能产品造成的现场退货,避免这些产品因 EOL 测试速度过慢或温控精度不足而被漏检
了解更多关于 PCX-DG 系列、DL 系列 Direct-to-Liquid 直接到液体热电制冷器组件以及 PR-59 温度控制器的信息,请访问 tark-solutions.com,或联系塔克热系统,讨论适用于您的光模块生产线的客制化 EOL 热测试头配置。
光模块EOL测试面临热管理挑战?
无论您需要缩短温度循环时间、提高温控精度,还是解决高频冷热循环下的可靠性问题,Tark Thermal Solutions都可根据您的测试条件和热负载,协助评估适合的热管理方案。
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CIOE 2026 | 与我们现场交流
塔克热系统(Tark Thermal Solutions)将携手合作伙伴 Milli-Tech (泽万丰)亮相于2026年9月9-11日在深圳国际会展中心举办的第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026),展台位于13馆13A21。欢迎莅临展位,与我们现场探讨微型TEC如何给光模块做温度控制、光模块EOL测试、WSS及其他光通信应用中的精准热管理挑战。
关于塔克热系统
塔克热系统(Tark Thermal Solutions)为医疗、工业、电信和数据中心等市场的严苛应用开发和制造热管理解决方案。我们是行业中能够生产最多样化产品组合的厂商之一,涵盖从热电制冷器和组件,到温度控制器、特种泵和液体制冷系统。凭借独特而先进的热管理专业技能,我们的工程师团队能够使用高级散热建模和管理技术来解决复杂的热管理和温度控制问题。通过提供专业的设计、样品制作和公司内部测试等支持,我们能够在整个产品开发生命周期中与客户密切合作,降低各种风险,并加快产品上市速度。我们的全球设计、制造和支持资源可帮助客户缩短产品设计周期,最大限度提高生产效率、正常运行时间、产品性能和质量。塔克热系统是标准或客制化热管理解决方案的更佳选择。
欲了解更多信息
请访问http://tark-solutions.com/cn
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